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基本信息

項目名稱:
基于單片機改造邁氏干涉儀自動測量微小長度
小類:
信息技術
簡介:
基于單片機改造邁氏干涉儀用于自動測量He-Ne激光波長和透明薄膜厚度。通過單片機驅(qū)動步進電機帶動儀器的微調(diào)手輪轉(zhuǎn)動,使光屏上產(chǎn)生穩(wěn)定變化的干涉條紋,使用光敏二極管檢測條紋信號光強變化,通過光電轉(zhuǎn)換電路將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?,輸入到單片機進行處理,測量結(jié)果自動顯示在液晶屏上。實驗結(jié)果證明,改造后的邁克爾干涉儀提高了測量的精確度、速度和效率。
詳細介紹:
作品基于單片機改造了邁克爾干涉儀進行微小長度的自動測量,測量對象為激光波長和透明的薄膜厚度,系統(tǒng)工作原理如圖1所示: 圖1 系統(tǒng)工作原理圖 1、激光波長測量:使用氦氖激光作光源,利用光的分振幅干涉法。用步進電機帶動微調(diào)手輪轉(zhuǎn)動代替手動調(diào)節(jié),電機旋轉(zhuǎn)角度對應光程差2△d;光屏上得到的"吞"、"吐"條紋通過光電轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換為脈沖信號,輸入到單片機進行計數(shù)(條紋數(shù)n),代替了人眼觀察條紋計數(shù);測量步驟、結(jié)果(波長λ=2△d/n)及相對誤差通過液晶屏顯示,從而實現(xiàn)波長自動測量。 2、薄膜厚度測量:使用白光作光源,利用等厚干涉法。光路原理圖如圖2所示,當白光光程差為零時發(fā)生干涉現(xiàn)象, 將光屏上的彩色條紋通過光電轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換為脈沖信號,同時記錄M1的初位置d1;放入薄膜后,光程差增大,彩色條紋消失;電機帶動M1移動到彩紋再現(xiàn),記錄M1的末位置d2。用阿貝折射儀測出薄膜折射率n,輸入到單片機,根據(jù)公式L=|d2-d1|/(n-1)進行處理,即可得到薄膜厚度。 圖2 白光干涉原理圖 儀器改造后的主要特點: 改造后的邁克爾遜干涉儀提高了實驗的效率和準確度,拓寬了使用范圍,不僅可以自動測量激光波長,避免了以往的人眼計數(shù)、手動調(diào)節(jié)等操作過程所引起的人為誤差,而且能利用白光干涉自動測量透明薄膜厚度,所采用光學的非接觸性測量方法不會對薄膜造成損害,有一定的創(chuàng)新意義和實用價值!

作品圖片

  • 基于單片機改造邁氏干涉儀自動測量微小長度
  • 基于單片機改造邁氏干涉儀自動測量微小長度
  • 基于單片機改造邁氏干涉儀自動測量微小長度
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作品專業(yè)信息

設計、發(fā)明的目的和基本思路、創(chuàng)新點、技術關鍵和主要技術指標

薄膜厚度是薄膜性能參數(shù)的重要指標,如何準確、快速、方便地測量膜厚在實驗中具有十分重要的意義。邁克爾遜干涉儀測量激光波長是大學物理實驗中重要的一部分,實驗時實驗者手動調(diào)節(jié)微調(diào)手輪,人眼觀察干涉條紋,帶來很多人為誤差,影響測量結(jié)果。為了保護實驗者視力,提高測量精度,擴大測量范圍,同時促進光學教學實驗儀器的發(fā)展,在研究單片機的基礎上,對邁克爾遜干涉儀進行了探索和改造。改造后的邁克爾遜干涉儀在不改變物理學基本原理的基礎上,增加了電子技術中的大量元素,使物理學和電子技術很好地結(jié)合起來,實現(xiàn)了對激光波長和薄膜厚度的自動測量。測量簡便、精確度高,有一定的實用性。

科學性、先進性

科學性: 改造后的邁克爾遜干涉儀在不改變物理基本原理的基礎上,增加電子技術模塊,實現(xiàn)了微小長度的自動測量,提高了測量的精確度、準確度、速度和效率。 先進性: 與普通的邁克爾遜干涉儀相比,改造后的邁氏干涉儀技術上有四大優(yōu)勢: (1)采用步進值較小的步進電機帶動微調(diào)旋鈕轉(zhuǎn)動。此改裝相比實驗者手動調(diào)節(jié)具有速度快、轉(zhuǎn)速均勻的特點;提高了測量的精確度; (2)利用光敏二極管代替人眼觀測。光敏二極管比人眼對光信號反應靈敏,在波長測量時能夠較為準確快速地進行條紋計數(shù),縮短了實驗的時間,避免了人眼觀察的疲勞和主觀人為因素的干擾; (3)用程序設計實現(xiàn)測量過程的自動化。 (4)改換白光官光源,擴展邁克爾遜干涉儀的使用范圍。改造前的邁克爾遜干涉儀僅僅使用激光光源,無法實現(xiàn)對固定物體厚度的測量,改用白光后,利用白光干涉原理實現(xiàn)對薄膜厚度的測量。

獲獎情況及鑒定結(jié)果

本作品于2010年12月18日由湖北省教育廳舉辦,華中科技大學承辦,光谷體育館舉行的“湖北省首屆大學生物理創(chuàng)新實驗設計大賽”中獲得“一等獎”。

作品所處階段

實驗室階段

技術轉(zhuǎn)讓方式

作品可展示的形式

現(xiàn)場演示

使用說明,技術特點和優(yōu)勢,適應范圍,推廣前景的技術性說明,市場分析,經(jīng)濟效益預測

邁克爾遜干涉儀測激光波長實驗在大學物理實驗中占有重要地位。實驗中通常要求實驗者連續(xù)數(shù)幾百個“吞”或“吐”的干涉條紋。實驗者長時間盯著條紋,眼睛容易疲勞,造成人為誤差。因此,為了保護實驗者視力,提高測量精度,基于單片機設計了本作品,操作簡單、測量精確度高。 薄膜厚度是薄膜性能參數(shù)的重要指標,如何準確而快速方便地測量膜厚在實驗中具有十分重要的意義。作品自動測量透明薄膜厚度,達到了 米量級。采用非接觸法測量,不會破壞薄膜,擴展了邁克爾遜干涉儀的適用范圍,提高了實用性。對白光干涉理論的應用探究,推動了普通大學物理實驗的創(chuàng)新與發(fā)展。 改進后的實驗裝置適用于精準測量光波波長和各種透明薄膜的厚度,改裝電路元件價格低廉,組裝簡單,對邁克爾遜干涉儀的手動測量與外觀沒有任何影響,促進了光學教學實驗儀器的發(fā)展,有一定的市場前景。

同類課題研究水平概述

邁克爾遜干涉儀是根據(jù)光的干涉原理制成的一種精密的光學儀器,在近代物理和計量技術中有著廣泛應用,用邁克爾遜干涉儀可以測量光波的波長、微小長度、光源的相干長度,還可以研究如溫度、壓強、電場、磁場以及媒介運動等物理因素對光的傳播等等。 利用邁克爾遜干涉儀,實驗室能夠較容易實現(xiàn)對激光波長和微小長度的變化量的手動測量,但實驗過程復雜、效率低。目前在國內(nèi),邁克遜干涉儀對透明薄膜厚度的自動化測量還沒有完全實現(xiàn)。本作品能夠?qū)崿F(xiàn)波長和薄膜厚度的自動化測量,此高效、精密、全自動化的邁克爾遜干涉儀一旦投入生產(chǎn),將被市場廣泛需求。 作品采用兩個靈敏的光敏二極管設計了自動條紋計數(shù)系統(tǒng),避免人眼計數(shù),提高實驗效率,且在一般光強下均可適用。薄膜厚度是薄膜性能參數(shù)的重要指標,如何準確而快速方便地測量膜厚在實驗中具有十分重要的意義。作品自動測量透明薄膜厚度,達到了 米量級。采用非接觸法測量,不會破壞薄膜,擴展了邁克爾遜干涉儀的適用范圍,提高了實用性。對白光干涉理論的應用探究,推動了普通大學物理實驗的創(chuàng)新與發(fā)展。 改進后的實驗裝置適用于精準測量光波波長和各種透明薄膜的厚度,改裝電路元件價格低廉,組裝簡單,對邁克爾遜干涉儀的手動測量與外觀沒有任何影響,促進了光學教學實驗儀器的發(fā)展,有一定的市場前景。
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