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基本信息

項(xiàng)目名稱:
集成電路開短路測試
小類:
信息技術(shù)
簡介:
本集成電路開短路測試主要用于MC34063檢測
詳細(xì)介紹:
本次設(shè)計(jì)針對測試集成電路的開短路。作品設(shè)計(jì)以AT89S52,兩個CD4051,一個待測芯片MC34063為主,用AT89S52來控制CD4051輸入引腳從而使得輸出其中一個引腳,此引腳用來連接被側(cè)的其中一個引腳。34063芯片測試儀基本功能是集成電路的開短路測試、基準(zhǔn)電壓測試、集成電路等級評定;自動分裝時能夠與機(jī)械手系統(tǒng)通信;用數(shù)碼顯示基準(zhǔn)電壓和集成電路等級評定結(jié)果。在評定集成電路等級時,第一種測試儀只需分辨合格與不合格。 芯片的測試分兩次。在芯片制造完成后必須對圓片上的芯片(小片)進(jìn)行測試。測試后進(jìn)行切割。測試合格的芯片才能進(jìn)行封裝。封裝完成后的芯片還要進(jìn)行第二次測試。當(dāng)已經(jīng)封裝的芯片被測出故障,廠商應(yīng)當(dāng)拆掉封裝進(jìn)行測試,找出故障原因。這時候的故障可能是由于焊接等過程中的靜電等原因造成的。

作品圖片

  • 集成電路開短路測試
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作品專業(yè)信息

設(shè)計(jì)、發(fā)明的目的和基本思路、創(chuàng)新點(diǎn)、技術(shù)關(guān)鍵和主要技術(shù)指標(biāo)

目的:本次設(shè)計(jì)針對測試集成電路的開短路。 基本思路:作品設(shè)計(jì)以AT89S52,兩個CD4051,一個待測芯片MC34063為主,用AT89S52來控制CD4051輸入引腳從而使得輸出其中一個引腳,此引腳用來連接被側(cè)的其中一個引腳。 創(chuàng)新點(diǎn):34063芯片測試儀基本功能是集成電路的開短路測試、基準(zhǔn)電壓測試、集成電路等級評定;自動分裝時能夠與機(jī)械手系統(tǒng)通信;用數(shù)碼顯示基準(zhǔn)電壓和集成電路等級評定結(jié)果。在評定集成電路等級時,第一種測試儀只需分辨合格與不合格。 技術(shù)關(guān)鍵: 芯片的測試分兩次。在芯片制造完成后必須對圓片上的芯片(小片)進(jìn)行測試。測試后進(jìn)行切割。測試合格的芯片才能進(jìn)行封裝。封裝完成后的芯片還要進(jìn)行第二次測試。當(dāng)已經(jīng)封裝的芯片被測出故障,廠商應(yīng)當(dāng)拆掉封裝進(jìn)行測試,找出故障原因。這時候的故障可能是由于焊接等過程中的靜電等原因造成的。 主要技術(shù)指標(biāo):集成電路測試來測試一個芯片的好使與否

科學(xué)性、先進(jìn)性

對集成電路廠家來說,開短路測試(open short test)是集成電路生產(chǎn)商必須具備的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),關(guān)系到企業(yè)的生存。本次設(shè)計(jì)主要是針對工業(yè)生產(chǎn)中對MC34063芯片的開短路測試。

獲獎情況及鑒定結(jié)果

作品所處階段

原理實(shí)現(xiàn)、技術(shù)成熟、測試成功

技術(shù)轉(zhuǎn)讓方式

不轉(zhuǎn)讓

作品可展示的形式

圖片、視頻

使用說明,技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢,適應(yīng)范圍,推廣前景的技術(shù)性說明,市場分析,經(jīng)濟(jì)效益預(yù)測

技術(shù)特點(diǎn):用于測試開短路。 優(yōu)勢:構(gòu)造簡單,使用方便,能夠在短暫的時間來測試一個芯片的好使。 適應(yīng)范圍:適應(yīng)在一個廠家來測試芯片,從而來推廣在各個廠家。 推廣前景:由于我們設(shè)計(jì)的集成電路測試使用簡單,所以一定很受廠家的歡迎。 市場分析:只要這個產(chǎn)品推出,具有很大的潛力,會給廠家?guī)砗艽蟮男б?,因此具有很大的市場? 經(jīng)濟(jì)效益:我們的作品成品低,造價低,只要廠家用這個產(chǎn)品,不但會節(jié)省人力資源,而且會節(jié)省時間,從而帶來更多的效益.

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